質量分析の基本:イオン源のクリーニング

昨日は、高分解能GC-MSを使う研究サポートの仕事。

 

EIイオン源の分解・クリーニングをしました。

 

 

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イオン源がMS装置に装着されている写真

 

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分解したEIイオン源

 

 

いやぁ~、何年ぶりだったでしょう!

 

随分長いことLC/MSに関係する仕事をしていたので、LC-MSのESIやAPCIのイオン源はよくクリーニングしていますが。

 

LC-MSのイオン源は、ESIにしろAPCIにしろ、EIイオン源ほど複雑ではないから、クリーニングが楽なのです。

 

 

このお客様のところでは、食品に残留する微量成分を分析しており、かなり頻繁にイオン源のクリーニングを行っています。

 

イオン源が汚れると、検出感度が低下したりノイズが増えたりして、微量成分の分析に支障をきたすからです。

 

 

LC-MSとGC-MSで、イオン源の汚染による感度低下への影響は違いますし、クリーニングの手間も装置によって異なります。

 

しかし、頻度や手間の差こそあれ、MS装置を使う上で(今の装置では)イオン源のクリーニングは必須です。

 

 

多かれ少なかれイオン源クリーニングは手間なので、沢山のユーザーの中にはやりたくないと思っている人も結構な割合で居ると思います。

 

お金が潤沢にあれば、その都度メーカーのエンジニアを呼べますが、殆どはユーザーが自ら行います。

 

 

装置を売るメーカー側もそれは分かっていて、不誠実な営業マンは、¨うちのMS装置はイオン源クリーニングが不要¨などと言うそうです。

 

イオン源クリーニングが不要なMS装置は、現在のところ存在しないので、お仕事でMS装置を使っている人は、必要に応じてイオン源クリーニング(やその他メンテナンス)をしましょう❗

 

 

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エムエス・ソリューションズ株式会社
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